Анализ оптических схем стенда получения специального голографического защитного элемента и устройства контроля подлинности защитных голограмм - page 12

Рис. 6. Голографическая схема с одним фурье-преобразующим объективом
Схема включает ПВМС ЖК
1
, фурье-преобразующий объектив
2
и
регистрирующую среду
3
. Действительное изображение транспаран-
та
4
формируется объективом
2
в выходной плоскости схемы. Между
транспарантом и фурье-преобразующим объективом находится слой
пространства толщиной
z
12
, следовательно, амплитуда и фаза объект-
ной волны на входе объектива будут определяться дифракцией в этом
слое. Когерентная функция рассеяния слоя пространства имеет вид
[6, с. 88]
h
фр
(
x
2
, y
2
, z
12
) =
1
ikz
12
exp [
ikz
12
] exp
i
π
λz
12
x
2
2
+
y
2
2
,
(9)
где
k
= 2
π/λ
— волновое число;
λ
— длина волны излучения, исполь-
зуемая при получении голограммы.
Тогда распределение комплексной амплитуды излучения
A
об
(
x
2
, y
2
)
равно свертке функции амплитуды на выходе транспаранта
А
тр
(
x
1
, y
1
)
с функцией
h
фр
(
x
2
,
у
2
;
z
12
)
:
А
об
(
x
2
, y
2
) =
А
тр
(
х
1
, y
1
)
h
фр
(
x
2
,
у
2
;
z
12
)
.
Комплексный коэффициент пропускания тонкого анаберрационно-
го сферического объектива определяется формулой [6, с. 98]
τ
об
(
x
2
, y
2
) =
Р
зр
(
x
2
, y
2
) exp[
iπ/
(
λ
з
f
)(
x
2
2
+
y
2
2
)]
,
где
x
2
,
y
2
— координаты в плоскости зрачка объектива;
Р
зр
(
x
2
, y
2
)
функция зрачка объектива;
f
— заднее фокусное расстояние объектива.
Тогда комплексная амплитуда излучения на выходе объектива будет
определяться как
А
об
(
x
2
, y
2
) =
А
об
(
x
2
, y
2
)
τ
об
(
x
2
, y
2
) =
А
тр
(
х
1
, y
1
)
h
фр
(
x
2
, y
2
;
z
12
)
×
×
Р
зр
(
x
2
, y
2
) exp[
iπ/
(
λ
з
f
)(
x
2
2
+
y
2
2
)]
(10)
(для тонкого объектива можно считать
x
2
=
x
2
,
y
2
=
y
2
)
.
42 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2009. № 2
1...,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11 13,14,15,16,17,18,19
Powered by FlippingBook