9 / 16
с выходом на границы диапазона измерений, и, наконец, переход в
стабильное аномальное состояние с выходной информацией, соответ-
ствующей предельному значению диапазона измерений около 0,45
◦
/с.
Был проведен большой комплекс исследований по локализации
устройства прибора, ответственного за отказ ИК, и поиску конкретного
отказавшего элемента. По результатам исследований установлено, что
наиболее вероятно отказ произошел в УОС системы обратной связи
ИК. Как было отмечено выше, отказы до этой точки являются чаще
всего ненаблюдаемыми в выходной информации ИК. Это только в том
случае, если СОС остается работоспособной, и рабочий сигнал в ней
не выходит из пределов линейной зоны. Здесь же отказ развивается
так, что рабочая точка вначале редко, а потом все чаще и, наконец,
совсем выходит на свое максимальное значение.
Такая картина выходной информации ИК возможна вследствие от-
каза УОС при выходе его рабочей точки на “полку” характеристики.
В этом случае СОС не справляется с задачей “погашения” внешнего
сигнала, который далеко ушел за пределы линейной зоны СОС. Тогда
рабочий сигнал СОС тоже выходит на максимум, что было подтвер-
ждено испытаниями на технологическом приборе.
В качестве наиболее вероятной первопричины отказа ИК был опре-
делен отказ микросхемы 140УД17 в составе УОС, проявившийся в
выходе за допуск параметра напряжения смещения. Во всех отка-
завших ИК были установлены указанные микросхемы изготовления
завода “Квазар” (Украина). При наземной многолетней эксплуатации
технологических приборов отказов этих микросхем не наблюдалось.
Это и то, что отказы ИК произошли через примерно одинаковые вре-
менн ´ые интервалы от начала летной эксплуатации приборов в усло-
виях космоса, позволили предположить следующее: произошла дегра-
дация микросхем под воздействием какого-то из эксплуатационных
факторов, наиболее вероятно, радиации при условии, и это важно, что
изначально качество микросхем было недостаточным. В пользу этого
свидетельствует то, что первые образцы прибора отработали в составе
других КА заданный ресурс 10 лет без замечаний.
Было сделано предположение, что предприятием “Квазар” была на-
рушена технология изготовления МС, что вполне могло быть в услови-
ях развала экономики и производства в 1990-х годах на постсоветском
пространстве.
Результаты проведенных радиационных испытаний микросхем
140УД17 завода “Квазар” того же периода изготовления, что и в
составе отказавших ИК приборов, имитирующих радиационные воз-
действия на элементы в составе КА на орбите, показали: их фак-
тическая радиационная стойкость намного меньше гарантированной
в технических условиях — микросхемы отказали при уровне накоп-
ленной дозы, соответствующей 2–3 годам летной эксплуатации на
144 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2015. № 5