Информация о количестве поверхностей сложных экранов
ξ
2
(1)
в
конструкции исследуемого по фоновой облученности прибора дается
в таб л. 2 (см. рис. 2,
б
). Наличие в перечисленных параметрах индекса
γ
указывает на необходимость в общем случае определения положения
входного отверстия по внешнему и внутреннему диаметрам ОС прибо-
ра. В связи с этим при проведении расчетов в автономном режиме ОС
необходимо характеризовать индексами
θ
1
,
K
∗
1
. Их цифровое значение
соответствует признаку наличия (
q
1
= 1
) или отсутствия (
q
1
= 0
) в
ОС внутреннего отверстия, а также при
q
1
= 1
— номеру оптической
поверхности
K
∗
1
, за которой (в направлении хода излучения к ПАИ)
нет оптических элементов с внутренними отверстиями.
Как отмечалось ранее, количественно коэффициенты
K
(1)
,
K
(2)
,
K
(3)
удобно определять, используя практикуемый в фотометрии метод
виньетирования по площади. В этом случае появляется возможность
вычислить положение и размеры входного отверстия части прибора,
расположенной за
m
i
-м источником, считая все плоские диафрагмы в
конструкции ОЭП круглыми. Некруглые плоскости, которые рассма-
триваются как диафрагмы, вызывающие экранирование третьего вида,
аппроксимируются прямоугольными плоскостями, описывающими их.
Система индексации их координирования изложена ранее.
При расчете положения и размеров входного отверстия, те, в свою
очередь, вторично аппроксимируются круглыми плоскостями, вписы-
вающимися при
γ
= 1
и описывающими при
γ
= 2
(см. рис. 2,
в
). Ин-
формация обэтой аппроксимации заносится в табл.
Т
2
B
(см. рис. 2,
а
)
через координаты
r
k
,
Δ(
γ
)
.
Для вычисления в автоматическом режиме коэффициентов экрани-
рования излучения выбранного в конструкции источника на простран-
ственно сложных диафрагмах типа
ξ
3
в расположенной за ними части
прибора необходимо разработать индексацию, определяющую их (
ξ
3
)
местоположение вдоль оптической оси.
На рис. 2,
б
приведена табл.
Т
10
, в которой представлена индек-
сация, позволяющая решить поставленную задачу. В ней цифровое
значение индекса соответствует номеру местоположения в конструк-
ции прибора сложных экранов типа
ξ
3
или кратности экранирования
излучения его элементов в направлении от ПАИ к головному элементу
ОС ОЭУ.
Оптическая поверхность, за которой располагается
æ
-е место слож-
ного экранирования по прямому ходу лучей, в дальнейшем определя-
ется индексом
K
æ
. Если в конструкции прибора сложное экранирова-
ние отсутствует, то
K
æ
= 0
при
æ = 0
. При определении прозрачности
экранов типа
ξ
3
= 0
в направлении, перпендикулярном оптической
оси, вводятся индексы
Δ
æ1
и
Δ
æ2
: при
Δ
æ1
— диафрагма непрозрачна
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2006. № 1 19
