и конфигурации входного отверстия части прибора, расположенной за
вышеназванным источником.
При этом удобно воспользоваться методами и принципами, прак-
тикуемыми в теории зрачков и люков ОС и фотометрии. Из них, в пер-
вую очередь, используют метод распознавания диафрагм и принцип
расчета степени экранирования излучения в ОС через коэффициент
виньетирования по площади [1, 2].
Согласно изложенному плоские диафрагмы, определяющие кон-
фигурацию внутренней полости прибора (в его продольном сечении,
проходящем через оптическую ось), координируются вдоль оптиче-
ской оси от вершин оптических поверхностей
K
в прямом ходе лучей
отрезками
S
k
Δ
(
γ
)
и
r
k
Δ
(
γ
)
или
S
k,
æ
(
γ
)
и
y
1
,
æ
, . . . , y
4
,
æ
;
z
1
,
æ
, . . . , z
4
,
æ
со-
ответственно в случае их круглой и прямоугольной форм (табл.
Т
2
B
и
Т
11
, см. рис. 2,
а, б
). Эти диафрагмы нумеруются в обратном ходе
лучей от ПАИ прибора к головному элементу его конструкции цифро-
вым значением индексов
Δ
и
æ
(табл.
Т
2
B
и
Т
10
, см. рис. 2,
а, б
).
Для определения связи между поверхностью и номером диафраг-
мы по индексу
Δ
, расположенной перед ней, вводится признак
Δ
∗
k
(
γ
)
(табл.
Т
2
А
, см. рис. 2,
а
). Он соответствует количеству диафрагм в пре-
делах секции конструкции внутренней полости прибора, включая диа-
фрагму, касающуюся поверхности
K
и
. В случае наличия перед
K
и
-й
поверхности нескольких источников
m
i
типа
М
γ
или
М
γ
(
K
)
, при нахо-
ждении входного отверстия каждый из них в табл.
Т
1
A . . .
Т
1
D
разра-
батываемой системы описания внутренней полости ОЭУ определяется
индексами
Δ
и
для
γ
= 1
и
Δ
и1
в случае
γ
= 2
. Их числовое значение
соответствует номеру диафрагмы
Δ
, за которой в обратном ходе лу-
чей располагается рассчитываемый источник (табл.
Т
1
A . . .
Т
1
D
, см.
рис. 2,
а
).
Пространственная сложность некруглых экранов определяется
по цифровому значению индекса
ξ
3
: 0 — плоский прямоугольный
экран(диафрагма), перпендикулярный оптической оси; 1 — экран в
виде комбинации нескольких поверхностей различной формы и ори-
ентации относительно оптической оси (противосолнечные бленды,
держатели оправ линз и т.д.).
Конструктивному элементу типа
ξ
3
= 1
соответствует имя
ξ
2
(1)
,
под которым понимается комбинация поверхностей их составляющих
и экранирующих в направлении в ПАИ излучение от рассчитывае-
мого источника (табл.
Т
12
, см. рис. 2,
б
). Каждая из этих поверхно-
стей определяется индексами
М
γ
(
K
)
(или
М
γ
),
m
i
,
γ
и
, по которым в
соответствующих таблицах
Т
1
W
1
. . .
Т
1
D
1
(см. рис. 2,
а
) находятся
геометрические параметры
α
ξ
,
r
ξ
,
x
1
, . . . , x
m
и т.д.
18 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2006. № 1