Изложенное выше служит описанием внутренней полости кон-
струкции прибора с точки зрения пространственной ориентации эле-
ментов вдоль оптической оси, их классификацией как источников и
системой координирования. Эта информация обизлучающих элемен-
тах в каждой секции внутренней полости конструкции ОЭУ заносится
в таблицы
Т
1
А
−
Т
1
D
и
Т
1
W
1
−
Т
1
D
1
соответственно по признакам
типа источника
N
,
М
0
γ
,
М
γ
(
K
)
(см. рис. 2,
а
).
В отдельную таблицу
Т
1
G
сведена информация обисточниках
типа
М
ξ
(
K
)
при
ξ
= 3
. Это обусловлено необходимостью ее исполь-
зования при определении степени различного вида экранирования из-
лучения
m
-го источника при его прохождении к ПАИ прибора.
В общем случае излучение
m
i
-го элемента секции может претер-
певать различного вида экранирование на непрозрачных конструктив-
ных элементах следующей за ним в направлении к ПАИ части при-
бора. Классифицируем эти экранирования, учитывая действительные
явления, происходящие с излучением
m
i
-го источника в приборе, сле-
дующим образом:
K
(1)
— экранирование на входном отверстии части прибора, распо-
ложенной за источниками, при частичном или полном его заполнении
их излучением (подобно диафрагмированию);
K
(2)
— экранирование на диафрагмах части прибора, расположен-
ной за источниками, приводящее к изменению конфигурации действу-
ющего входного отверстия при расчете облученности во внеосевых
точках ПАИ (подобно виньетированию);
K
(3)
— экранирование на конструктивных элементах типа
М
ξ
,
М
ξ
(
K
)
при
ξ
= 3
, расположенных либо непосредственно за источ-
никами, либо отделенных от них рядом оптических поверхностей (т.е.
на сложных пространственных экранах).
Под входным отверстием понимается диафрагма в части прибора
(при наличии в ней оптики — изображение диафрагмы), расположен-
ной за
m
i
-м источником(элементом конструкции), которая при задан-
ной точке в ПАИ ограничивает его излучение.
При сложной компоновке конструкции прибора излучение некото-
рых ее элементов может претерпевать экранирование последнего вида
различной кратности. Кратность в данном случае определяет сколь-
ко раз пространственно экранируется излучение на конструктивных
элементах типа
M
γ
,
M
γ
(
K
)
при
γ
= 3
на пути его прохождения к
ПАИ.
В случае необходимости определения степени экранирования из-
лучения
m
i
-го элемента внутренней полости ОЭУ при его прохожде-
нии к ПАИ, возникает потребность в системе ее описания (полости)
для решения задачи расчета положения (относительно вершины
K
и
)
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2006. № 1 17
