Модель приемной системы оптико-электронных устройств для определения внутриприборной фоновой облученности плоскости анализа изображения элементами конструкции произвольной компоновки - page 13

Рис. 3. К определению исходной зависимости для расчета внутриприборной фо-
новой засветки от элементов конструкции
Подставляя выражения (2) и (3) в соотношение (1) и учитывая, что
i
x
=
i
2
, получим
E
A
(Σ) =
i
x
ϕ
y
L
Σ
(
i
2
;
i
1
) cos
i
x
sin
i
x
dx dϕ
y
.
(4)
Для решения поставленной задачи с использованием стандартных
программ решения многократных интегралов наиболее удобной явля-
ется следующая форма записи соотношения (4):
E
A
(Σ) =
i
=1
S
L
ei
(
i
2
;
i
1
)
r
cos
i
1
cos
i
2
/L
2
dr dϕ,
(5)
где
S
=
rdrdϕ
— площадь излучающей поверхности
m
i
-го элемен-
та конструкции ОЭУ;
r
;
ϕ
— полярные координаты некоторой точки
излучающей поверхности
S
;
L
e
(
i
2
;
i
1
)
— яркость площадки
S
по за-
данному направлению;
L
— расстояние между точками соответственно
излучающей площадки
S
и облучаемого элемента площади в ПАИ.
Фоновая засветка в ПАИ прибора в общем случае определяет-
ся излучением линзовых компонентов ОС и непрозрачных элементов
конструкции его внутренней полости.
Яркость излучения равномерно нагретой изотропной среды в за-
данном направлении (из-за повышенных требований к материалам
оптических деталей источники типа
N
можно считать такой средой)
может быть рассчитана по зависимости [5]
L
e,i
x
(
i
1
, N
) =
1
π
{
1
ρ
K
(
i
K
)
}
(
n
N,λ
)
2
τ
λ,i
x
(
m
m
0
)
M
[
T
i
x
(
l
N
)]
×
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2006. № 1 23
1...,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12 14,15,16,17,18,19
Powered by FlippingBook