7 / 14
Рис. 3. Зависимость асфериче-
ских составляющих аберраций
третьих порядков от соотноше-
ний высот второго и первого
параксиальных лучей
Наиболее интересной на графи-
ке является точка с координатами
ˉ
H
k
/
ˉ
h
k
= 0
. В этой точке введение АП
оказывает воздействие только на сфери-
ческую аберрацию. В точке
ˉ
H
k
/
ˉ
h
k
= 1
все асферические составляющие равны
значению
B
k
, а в точке
ˉ
H
k
/
ˉ
h
k
=
−
1
асферические составляющие первой и
третьей сумм равны
B
k
, а второй и пя-
той — минус
B
k
. Следует также отме-
тить, что знак асферических составляю-
щих первой и третьей сумм определяет-
ся знаком величины
B
k
и не изменяется
во всем диапазоне изменения соотноше-
ния высот второго и первого параксиаль-
ного лучей. Знак второй и пятой соста-
вляющих сумм зависит как от знака
B
k
,
так и от знака соотношения высот парак-
сиальных лучей.
Как следует из графиков, существует
только одно положение АП (
ˉ
H
k
/
ˉ
h
k
= 0
),
когда можно исправлять сферическую
аберрацию, не воздействуя на осталь-
ные. Любое другое положение поверх-
ности приводит к изменению, наряду с
коррегируемой, всех аберраций системы. Поэтому вполне очевидно,
что уже на начальной стадии необходимо знать влияние вводимой АП
на некоррегируемые аберрации в целях изыскания такого положения
поверхности, при котором нежелательным влиянием на некоррегиру-
емые аберрации можно было бы пренебречь либо компенсировать за
счет внутренних резервов системы.
Однако чисто теоретический, расчетный подход к решению поста-
вленной задачи не совсем правомерен. Дело в том, что не накладывая
ограничений, можно прийти к такой АП, изготовление которой в се-
рийном производстве невозможно. Примером могут служить поверх-
ности с отступлениями от ближайших технологических поверхностей
более 10. . . 20 мкм, допуски отклонения формы которых не должны
превышать значений порядка нескольких длин волн. Такая точность
изготовления, как известно, необходима и сравнительно легко дости-
гается при обработке плоских и сферических поверхностей оптиче-
ских деталей небольших размеров. Поэтому при выборе поверхности,
подлежащей асферизации, необходимо учитывать возможности техно-
логических процессов асферизации и контроля.
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2016. № 2 109