в одном направлении. Асферическая поверхность на третьем зеркале
объектива также влияет на все аберрации, кроме того, с ее помощью
можно регулировать аберрации, вносимые АП первого зеркала, так
как можно получить асферические составляющие аберраций, проти-
воположные по знаку таковым у АП на первом зеркале.
Таким образом, комбинация АП на первой и третьей поверхностях
объектива путем точного подбора коэффициентов деформации может
быть использована для тонкой коррекции сферической аберрации, ко-
мы, астигматизма и дисторсии, в том числе и высших порядков. При
невысоких требованиях к объективу — небольшом относительном от-
верстии (
К
≥
9
), малом угловом поле — возможно использование
только одной АП на первой поверхности. Введение АП на второй
поверхности нежелательно из-за невысокой эффективности и для по-
вышения технологичности схемы, но возможно в некоторых случаях
для дополнительной коррекции аберраций высших порядков.
После того, как было определено, какие поверхности будут асфери-
ческими, решаются уравнения (5), подставляя в них (1)–(4) и (6), нахо-
дим конструктивные параметры объектива. Полученные конструктив-
ные параметры пересчитываются и оптимизируются для конкретных
значений фокусного расстояния и углового поля объектива, при этом
ограничения
d
1
=
−
d
2
и
b
2
= 0
можно при необходимости снять.
Во время оптимизации ОС необходимо особенно следить, чтобы
не происходило виньетирования пучков лучей. Виньетирование про-
исходит в точках, показанных на рис. 5.
Анализ виньетирования подразумевает трассировку определенных
лучей и вычисление координат точек их пересечений. Поэтому прове-
рять наличие виньетирования удобно с помощью программы автома-
тизированного расчета оптических систем.
Рис. 5. Положение точек, в которых происходит виньетирование, в схеме зер-
кального объектива с эксцентрично расположенным полем изображения
112 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2016. № 2