Оценка погрешности измерения показателя преломления на автоматическом рефрактометре с квазимонохроматическим источником излучения - page 8

Регистрация распределения излучения в плоскости приемника про-
водится с шагом 13 мкм, что соответствует размеру одной чувстви-
тельной площадки ПЗС-линейки. Поэтому корреляционная функция
известна в дискретном наборе точек и определение минимума и сдви-
га
τ
возможно с точностью до одного разрешаемого элемента.
Полученные результаты позволяют сделать вывод о том, что по-
грешность в определении корреляционного сдвига составляет 0,05 эле-
мента ПЗС-линейки, что соответствует погрешности
Δ
n
кор
= 2
·
10
5
;
такой результат является приемлемым.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. А л е х н о в и ч В. И., Д е р е з о в с к и й Д. В. Корреляционный метод опре-
деления критического угла для автоматического рефрактометра // Изв. вузов.
Приборостроение. – 2001. – № 7. – C. 38–47.
2. Б а ц а н о в С. С. Структурная рефрактометрия: Учеб. пособ. для вузов. – М.:
Высш. шк., 1976. – 208 с.
3. И о ф ф е Б. В. Рефрактометрические методы химии. – Л.: Химия, 1983. – 352 c.
4. Л е й к и н М. В., М о л о ч н и к о в Б. И., М о р о з о в В. Н. Отражательная
рефрактометрия. – Л.: Машиностроение. ЛО, 1983. – 223 c.
5. М у х у т д и н о в Б. И., Г л и н к и н Е. И. Светоизлучающие диоды и их
применение. – М.: Машиностроение, 1989. – 224 с.
6. С т е к л о СССР. Каталог/ Под ред. Г.Т. Петровского. – М.: Ротапринт Дома
оптики, 1990. – 132 c.
7. Д е р е з о в с к и й Д. В., А л е х н о в и ч В. И. Устранение влияния аберра-
ций оптической системы автоматического рефрактометра на точность измере-
ний // Исследовано в России. Электронный журнал. – 2001. – № 72. – C. 799–808.
(
.
Статья поступила в редакцию 21.01.2008
Валентин Иванович Алехнович родился в 1952 г., окончил МВТУ им. Н.Э. Баумана
в 1975 г. и МГУ им. М.В. Ломоносова в 1979 г. Канд. техн. наук, доцент кафедры
“Прикладная математика” МГТУ им. Н.Э. Баумана. Автор 40 научных работ в обла-
сти математического моделирования оптико-электронных и лазерных систем.
V.I. Alekhnovich (b. 1952) graduated from the Bauman Moscow Higher Technical School
in 1975 and the Moscow State University n. a. M.V. Lomonosov in 1979. Ph. D. (Eng.),
assoc. professor of “Laser Optical-and-Electronic Systems” department of the Bauman
Moscow State Technical University. Author of 40 publications in the field of mathematical
simulation of opto-electronic and laser systems.
Пиотровская Ирина Николаевна родилась в 1974 г., окончила МГТУ им. Н.Э. Баумана
в 1998 г. Ассистент кафедры “Оптико-элетронные приборы научных исследований”.
Специализируется в области оптических приборов для научных исследований.
I.N. Piotrovskaya (b. 1974) graduated from the Bauman Moscow State Technical
University in 1998. Junior member of teaching of “Optical and Electronic Research
Instruments” department of the Bauman Moscow State Technical University. Specializes
in the field of optical research instruments.
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2009. № 1 27
1,2,3,4,5,6,7 8
Powered by FlippingBook