Далее для условий слабых затенений получена простая модель для
средней принимаемой мощности в общей схеме бистатической ло-
кации земной поверхности (когда источник и приемник разнесены в
пространстве) при учете самозатенений элементов поверхности и кор-
реляции затенений элементов поверхности и их наклонов.
Пусть неровная земная поверхность
S
облучается узким лазерным
пучком. В качестве модели рельефа неровной земной поверхности ис-
пользуем модель трехмерной случайно-неровной в среднем плоской
поверхности, высоты и наклоны которой распределены по нормаль-
ному закону [7]. Индикатрису отражения локальных участков земной
поверхности (размер которых много больше длины волны излучения,
но меньше характерных масштабов поверхности и размеров освещен-
ного лазерного пятна) считаем ламбертовской [7, 8].
Аналогично вычислениям, приведенным в работах [2, 4, 7], можно
получить интегральное выражение для мощности
Р
, регистрируемой
приемником при локации случайно-неровной поверхности
S
с ламбер-
товской индикатрисой. После перехода от интегрирования по неров-
ной поверхности
S
к интегрированию по поверхности
S
0
(проекции
S
на плоскость
Z
= 0
) интегральное выражение для мощности
Р
при
освещении поверхности узким лазерным пучком и узком угловом поле
зрения приемника имеет следующий вид (считаем для простоты (как
и в работах [1–8], что источник, приемник и их оптические оси лежат
в одной плоскости
XOZ
некоторой произвольной системы координат,
у которой ось
Z
совпадает с нормалью к поверхности
S
0
):
P
∼
=
A
π
S
0
dR
0
n
Z
E
и
(
R
0
ζ
)
E
п
(
R
0
ζ
)
Y
(
m
и
, R
0
)
Y
(
m
п
, R
0
)
,
(1)
где
E
и
(
R
0
ζ
) =
E
и
(
R
0
Xζ
, R
0
Y ζ
) =
= (
m
и
n
)
E
и0
{
[
R
0
X
ctg
θ
и
−
ζ
(
R
0
)] sin
θ
и
, R
0
Y
}
;
E
п
(
R
0
ζ
) =
E
п
(
R
0
Xζ
, R
0
Y ζ
) =
= (
m
п
n
)
E
п0
{
[
R
0
X
ctg
θ
п
−
ζ
(
R
0
)] sin
θ
п
, R
0
Y
}
;
R
0
=
{
R
0
X
, R
0
Y
}
— вектор в плоскости
Z
= 0
;
E
и
(
R
)
— освещен-
ность, создаваемая лазерным пучком, падающим на поверхность
S
от
источника (без учета затенений);
E
п
(
R
)
— освещенность, создаваемая
на поверхности
S
фиктивным (с параметрами приемника) источником
(без учета затенений) [8];
E
и0
(
R
)
,
E
п0
(
R
)
— освещенности в плос-
костях, перпендикулярных оптическим осям источника и приемника
соответственно;
θ
и
,
θ
п
— углы между нормалью к плоскости
Z
= 0
и оптическими осями источника и приемника;
m
и
,
m
п
— единичные
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2010. № 4 51
