Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры

1 / 12

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ
ПРИРОДНОЙ СРЕДЫ, ВЕЩЕСТВ,
МАТЕРИАЛОВ И ИЗДЕЛИЙ
DOI: 10.18698/0236-3933-2016-1-3-14
УДК 658.512
ТЕПЛОВИЗИОННЫЕ МЕТОДЫ ОЦЕНКИ ВЛИЯНИЯ
ТЕМПЕРАТУРНЫХ РЕЖИМОВ НА НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННОЙ
АППАРАТУРЫ
С.Г. Семенцов, В.Н. Гриднев , Н.А. Сергеева
МГТУ им. Н.Э. Баумана, Москва, Российская Федерация
e-mail:
Рассмотрены методы оценки температурных режимов и их влияние на надеж-
ность электронной аппаратуры. Проведен анализ отказов элементов, возника-
ющих вследствие нарушения теплового режима, показаны возможные причины
их возникновения. Продемонстрирована применимость методов бесконтакт-
ной тепловизионной диагностики для выявления скрытых дефектов, приводя-
щих к нарушениям теплового режима и к параметрическим или внезапным
отказам в элементах электронной аппаратуры.
Ключевые слова: тепловизор, инфракрасная термография, скрытые дефекты,
параметрические отказы.
INFRARED THERMOGRAPHY METHODS OF ASSESSING
TEMPERATURE EFFECT ON RELIABILITY OF ELECTRONIC
EQUIPMENT
S.G. Sementsov , V.N. Gridnev, N.A. Sergeeva
Bauman Moscow State Technical University, Moscow, Russian Federation
e-mail:
The paper discusses the methods of estimating temperature regimes and their impact
on electronic devices reliability. The analysis of component failures is conducted.
They occur due to violation of the thermal regime. Possible causes of their
occurrences are presented. We demonstrated how the methods of non-contact thermal
imaging diagnostics are used to detect latent defects that result in violations of the
thermal regime as well as in parametric or sudden failures in electronic equipment
components.
Keywords: thermal imaging, infrared thermography, latent defects, parametric failures.
Введение. Надежность изделий электронной техники на уровне
отдельных плат, модулей и ячеек в значительной мере определяется
надежностью используемой элементной базы, т.е. электрорадиоэле-
ментов (ЭРЭ) и режимами их работы, соблюдением технологии сбор-
ки и качеством используемых материалов. Наличие скрытых дефектов
в ЭРЭ, нарушения технологии сборочных операций могут привести к
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2016. № 1 3