10 / 15
Рис. 5. Набеги фаз, вызванные неровностями поверхности отражателя, в
плоскости
y
=
−
100
мм:
а
— вычисленные,
б
— внесенные
На следующем этапе на поверхность отражателя вносились неров-
ности, которые влияют на фазу отраженного сигнала и учитываются
в
С
1
(
x, y
)
. Далее повторяют расчет дискретных значений
H
(
x
0
, y
0
)
и
находят набеги фазы
Δ
ϕ
изм
(
x, y
)
для параболоида вращения с неров-
ностями поверхности.
Неровности поверхности отражателя вычислялись по формуле (2)
сравнением фаз принятого сигнала для идеального зеркала и зеркала
с неровностями. На рис. 5,
а
приведены
Δ
ϕ
ид
(
x, y
)
(сплошная линия)
и
Δ
ϕ
изм
(
x, y
)
(штриховая линия) в сечении
y
=
−
100
мм, на рис. 5,
б
—
набеги фазы, внесенные при моделировании. Размеры неровностей
составляют
λ/
10
.
На рис. 6 представлена карта неровностей отражателя зеркальной
антенны, на рис. 7 — трехмерный вид вычисленных неровностей. Раз-
меры неровностей составляют
λ/
10
и
λ/
20
.
На рис. 5,
а
и 7 видно, что близко расположенные неровности начи-
нают сливаться, это вызвано тем, что расстояние между ними меньше
разрешающей способности системы при рассматриваемой геометрии
сканирования.
Заключение.
Задачи контроля и юстировки поверхности отра-
жателей зеркальных антенн СВЧ диапазона волн возможно решить
различными методами. Измерение профиля поверхностей крупноапер-
турных антенн является сложной задачей из-за наличия противоречи-
вых требований: высокая точность измерений (порядка десятков мкм)
при больших промеряемых размерах.
Наиболее точным и быстрым методом контроля поверхностей ра-
диотелескопов в настоящее время является радиоголографический ме-
тод, основанный на измерении комплексной диаграммы направленно-
сти. Но данный метод не подходит для контроля поверхностей зеркаль-
ных коллиматоров, поэтому разработан метод измерения профилей
90 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2015. № 4