УДК 535.9
С. Н. И в а н о в, Е. Ю. Л о к т и о н о в,
Ю. Ю. П р о т а с о в
ИССЛЕДОВАНИЕ СПЕКТРАЛЬНЫХ
КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ
КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД ПОЛИМЕРНОГО
РЯДА В КОРОТКОВОЛНОВОЙ ОБЛАСТИ
СПЕКТРА
Описаны разработанная оптическая схема и методика экспери-
мента с использованием зондирующего синхротронного излучения
в вакуумных условиях. Приведены результаты экспериментального
определения спектральных коэффициентов отражения диэлектри-
ков на основе элементов полимерного ряда в коротковолновом диа-
пазоне спектра (
hν
∼
3
,
5
. . .
25
эВ) на источнике синхротронного из-
лучения в Курчатовском центре синхротронного излучения и нано-
технологий при допороговых для развитого поверхностного испа-
рения значениях плотности мощности синхротронного излучения и
температуре поверхности конденсированных мишеней 300. . . 77 K.
E-mail:
Ключевые слова
:
спектральные коэффициенты отражения, конденси-
рованные среды, полимеры, оптико-диагностический модуль, источник
синхротронного излучения.
Экспериментальное определение спектральных коэффициентов от-
ражения конденсированных сред полимерного ряда в коротковолно-
вой области спектра представляет помимо общефизического и значи-
тельный практический интерес, что связано с разработкой широкого
спектра плазменно-оптических устройств и систем высокой плотно-
сти мощности, в которых оптические материалы находятся в непо-
средственном контакте с излучающей активной средой. В настоящее
время практически отсутствуют экспериментальные данные о спек-
тральных коэффициентах отражения и поглощения оптических мате-
риалов в ВУФ области спектра как в условиях развитого поверхност-
ного испарения, так и в условиях плазменной экранировки падающего
излучения [1, 2]. Информативным параметром, характеризующим эф-
фективность преобразования энергии при лазерном воздействии на
конденсированные и газоплазменные среды, является коэффициент
отражения. Несмотря на активное создание баз и банков оптических
данных, объем надежных экспериментальных данных (в том числе
и по температурной и частотной зависимостям коэффициентов отра-
жения
R
(
λ, T
)
) крайне ограничен даже для узких температурных и
спектральных интервалов. Отметим, что и для относительно хорошо
изученных материалов с зеркально-диффузным характером отраже-
ния (и тонкопленочных структур на их основе) значения нормально-
полусферических коэффициентов отражения
R
(
λ, T
)
, исследованных
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2010. № 1 41
