|

Полумарковская модель процесса эксплуатации измерительной техники с возможностью проведения ее поверок разными способами

Авторы: Кувыкин Ю.А., Минагуреев Н.А., Супрунюк В.В., Хайруллин Р.З. Опубликовано: 21.01.2026
Опубликовано в выпуске: #4(153)/2025  
DOI:

 
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Метрология и метрологическое обеспечение  
Ключевые слова: полумарковская модель, измерительная техника, поверка, коэффициент готовности, коэффициент достоверности, матрица вероятностей переходов

Анализ показателей метрологической надежности вискозиметров стеклянных капиллярных эталонных

Авторы: Неклюдова А.А., Сулаберидзе В.Ш. Опубликовано: 02.04.2024
Опубликовано в выпуске: #1(146)/2024  
DOI:

 
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Метрология и метрологическое обеспечение  
Ключевые слова: вязкость кинематическая, вискозиметр стеклянный капиллярный, коэффициент преобразования, метрологическая надежность, вероятность безотказной работы, наработка на отказ, срок службы

Симуляционная модель системы адаптивного управления сегментами составного зеркала космического телескопа и ее метрологическая аттестация

Авторы: Сычев В.В., Клем А.И. Опубликовано: 29.03.2021
Опубликовано в выпуске: #1(134)/2021  
DOI: 10.18698/0236-3933-2021-1-14-32

  
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Метрология и метрологическое обеспечение  
Ключевые слова: система адаптивного управления, синхронная машина с постоянными магнитами, симуляционная модель, метрологическая аттестация, погрешность неадекватности

Информационно-метрологическая оптимизация погрешностей волнового фронта излучения, регистрируемого телескопом

Авторы: Сычев В.В., Клем А.И. Опубликовано: 10.09.2020
Опубликовано в выпуске: #3(132)/2020  
DOI: 10.18698/0236-3933-2020-3-37-51

  
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Метрология и метрологическое обеспечение  
Ключевые слова: аберрационный расчет, оптическая система, космический телескоп "Миллиметрон", волновой фронт, качество изображения

Определение критериев обусловленности для оценки увеличения погрешности измерений в результате решения систем уравнений

Авторы: Савенков А.П. Опубликовано: 16.02.2019
Опубликовано в выпуске: #1(124)/2019  
DOI: 10.18698/0236-3933-2019-1-20-34

  
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Метрология и метрологическое обеспечение  
Ключевые слова: измерение, критерий, обусловленность, поверхностное натяжение, погрешность, система уравнений
1