но оптического импульса накачки в МВЗ (а следовательно, и относи-
тельно детектируемого ТГц импульса), можно регистрировать зависи-
мость напряженности ТГц электрического поля от времени
E
TГц
(
t
)
.
Отличительная особенность приведенной схемы ТГц спектрометра
заключается в том, что ТГц импульсное излучение с частотой следова-
ния импульсов 50МГц модулируется огибающей с частотой 102,4 кГц.
Модуляция импульсного ТГц излучения приводит к возникновению
модуляции ортогонально поляризованных компонент излучения проб-
ного пучка, регистрируемого БФД, что позволяет повысить ОСШ на
выходе БФД. Она реализуется за счет приложения переменного напря-
жения питания к электродам ФПА во время генерации ТГц импуль-
сов [7].
Методика исследования профилей диэлектрической образцов
зубной ткани.
Для восстановления профиля диэлектрической прони-
цаемости среды необходимо зарегистрировать два сигнала: сигнал, от-
раженный от исследуемого объекта, и базовый сигнал, отраженный от
эталонной зеркальной поверхности. В качестве эталонной отражаю-
щей поверхности обычно используется зеркало с золотым покрытием,
имеющее однородный и высокий спектральный коэффициент отраже-
ния. На рис. 2 приведена схема регистрации сигналов.
Фокусное расстояние линзы составляет 50 мм и позволяет полу-
чить близкий к нормальному угол падения излучения на объект, что
необходимо для решаемой обратной задачи. Относительное отверстие
линзы
D/f
0
= 1 : 2
позволяет сфокусировать ТГц излучение в до-
статочно малое пятно на поверхности эмали зуба, сохраняя при этом
Рис. 2. Принципиальная схема измерительного отсека ТГц спектрометра при
регистрации сигнала образца (
а
) и при регистрации базового сигнала (
б
):
ТГц — импульс ТГц излучения; ПЗ — внеосевое параболическое зеркало; З — плоское
зеркало; СД — светоделитель; Л — линза; ЭЗ — эталонное зеркало
38 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2013. № 2
