Оптимизация фоновых засветок плоскости анализа оптико-электронных устройств собственным излучением элементов их конструкции - page 5

алгоритмов
,
программ ЭВМ
,
как самостоятельных средств вычисления
или составляющих САПР
,
позволяет подойти к осуществлению опти
-
мизации ВФЗ при проектировании и конструировании ОЭУ
.
При этом оптимизацию
,
как математическую операцию
,
строят в
виде итерационного процесса последовательных приближений к мини
-
муму излучения
.
По конечным результатам расчета предшествующего
шага производят изменение величин выбранных параметров оптимиза
-
ции для выполнения последующего
.
Итерационное повторение шагов
заканчивается
,
когда изменение излучения от шага к шагу становится
пренебрежимо мало или достигает значения
,
не влияющего на величи
-
ну выбранного критерия оценки оптимизации
[15].
Согласно изложен
-
ному
,
достаточно описать один шаг оптимизации
,
чтобы пояснить суть
всего процесса
.
Рассмотрим оптимизацию параметров аэродинамически нагретых
обтекателей для уменьшения влияния их излучения на чувствитель
-
ность инфракрасных пеленгаторов
.
Под оптимизацией в этом случае
будем понимать направленное изменение этих параметров начиная с
некоторых исходных значений
(
например
,
со значений для первого ва
-
рианта конструктивной разработки
)
с целью уменьшения излучения в
плоскости анализа от рассматриваемого источника
(
обтекателя
)
до ве
-
личины
,
не влияющей на чувствительность инфракрасных пеленгато
-
ров при эксплуатации
.
Для этого определим метод вычисления облученности
(
излучения
на квадрат площади
)
аэродинамически нагретым обтекателем в плоско
-
сти анализа и программное обеспечение для его осуществления
.
Про
-
изведем расчет температурного поля обтекателя на траектории поле
-
та летательного аппарата с инфракрасным пеленгатором
(
см
.
рисунок
,
2
)
и по его результатам определим облученности в плоскости анали
-
за
(
4
).
Используя имеющиеся программы
(
1
),
можно вычислить нагрев
сферических
,
конических
,
пирамидальных
,
плоских обтекателей при
скоростях полета летательного аппарата
M
= 1
. . .
6
[11, 16].
В даль
-
нейшем их форму будем определять цифровым значением индекса
m
:
m
= 1
для сферичеких обтекателей
,
m
= 2
для конических
,
m
= 3
для пирамидальных
,
m
= 4
для плоских
(
1
).
Программы расчета
облученности в плоскости анализа инфракрасного пеленгатора обтека
-
телями указанных форм на рисунке обозначены
3
[8, 11, 12].
Опреде
-
лив метод вычислений и программное обеспечение для его осуществле
-
ния
,
переходим к выбору параметров оптимизации
,
которые в дальней
-
шем будем задавать числовым значением индекса
ψ
.
К этим параме
-
трам можно отнести форму обтекателя
(
ψ
= 1
),
его материал
,
опре
-
деляющий теплопроводность
(
ψ
= 2
),
и излучательную способность
ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. "
Приборостроение
". 2004.
1 109
1,2,3,4 6,7,8
Powered by FlippingBook