Оптимизация фоновых засветок плоскости анализа оптико-электронных устройств собственным излучением элементов их конструкции - page 3

от спектрального диапазона работы ОЭУ
.
Проведенные вычисления по
-
казывают
,
что для приборов
,
работающих в спектральных диапазонах
1
. . .
3
,
1
. . .
5
и
7
. . .
13
мкм
,
ошибка расчета ВФЗ линзовыми элемен
-
тами их оптических систем по указанным в работе
[5]
соотношениям
соответственно составляет
3–4 %, 10–40 %
и
220–250 % [8].
В связи с
тенденцией к увеличению спектрального диапазона ОЭУ применение
результатов перечисленных работ для определения внутреннего фона
,
создаваемого излучением линзовых компонентов оптической системы
,
в общем случае затруднительно
,
а в многоканальных по спектру при
-
борах
невозможно
.
Поэтому для определения ВФЗ с заданной точностью в ОЭУ произ
-
вольной конструктивной компоновки
,
работающих в любом диапазо
-
не оптического излучения
,
необходимо решить следующие основные
задачи
:
1)
разработать систему описания внутренней полости ОЭУ как
сложного пространственного источника
;
2)
разработать методы расчета ВФЗ плоскости анализа ОЭУ элемен
-
тами их конструкции
;
3)
получить аналитические зависимости для вычисления с заданной
точностью в произвольном спектральном диапазоне ВФЗ компонента
-
ми оптической системы ОЭУ и непрозрачных элементов конструкции
произвольной геометрической конфигурации
;
4)
разработать методы и алгоритмы расчета взаимоэкранирова
-
ния излучения элементов конструкции ОЭУ при определении ВФЗ
его плоскости анализа
;
5)
разработать методики расчета суммарных фоновых облученно
-
стей
(
прямой и рассеяной засветки
)
в плоскости анализа ОЭУ излуче
-
нием элементов их конструкции произвольной компоновки
.
Для решения поставленной проблемы в работе
[7]
предлагается си
-
стема описания внутренней полости прибора как сложного простран
-
ственного источника с помощью определенной индексации и таблиц
.
Эта система позволяет получать информацию о местоположении за
-
данного элемента в конструкции ОЭУ
,
его конфигурации
,
геометриче
-
ских размерах
,
степени нагрева
,
энергетических параметрах и др
.,
не
-
обходимую для расчета
.
В соответствии с заданной системой описания
конструкции внутренней полости прибора произвольной компоновки в
работе
[7]
изложены восемь методик расчета суммарных фоновых об
-
лученностей ее элементами
.
Отдельно разработаны методы определе
-
ния ВФЗ неравномерно нагретыми элементами конструкции ОЭУ
.
При создании теоретических основ решения проблемы ВФЗ для
решения третьей из перечисленных задач необходимо разработать ал
-
ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. "
Приборостроение
". 2004.
1 107
1,2 4,5,6,7,8
Powered by FlippingBook