распределение высот и наклонов поверхности гауссовским
),
получим
следующее выражение для средней мощности
P
,
регистрируемой при
-
емником
:
P
=
³
p
+ 2
2
´
Ar
2
п
α
2
п
P
0
exp
³
−
(
α
t
−
α
s
)(
L
и
+
L
п
)
´
m
−
1
/
2
F
(
γ
0
)
M
и
M
п
·
2
1
/
2
σ
0
(
M
−
1
и
+
M
−
1
п
)
1
/
2
×
×
³
M
−
1
и
cos
2
θ
и
+
M
−
1
п
cos
2
θ
п
−
m
−
1
(
M
−
1
и
cos
θ
и
sin
θ
и
+
+
M
−
1
п
cos
θ
п
sin
θ
п
)
2
´
−
1
/
2
exp(
−
f
(
R
d
))
,
(7)
где
M
и
= 4(
D
и
+
E
и
+
B
2
и
);
M
п
= 4(
D
п
+
E
п
+
B
2
п
);
m
=
1
2
σ
2
0
+
M
−
1
и
sin
2
θ
и
+
M
−
1
п
sin
2
θ
п
;
F
(
γ
0
) = cos
p
θ
п
(2
γ
2
0
)
−
p/
4
exp
³
1
4
γ
2
0
´ µ
cos
θ
п
cos
θ
и
(2
γ
2
0
)
−
1
/
4
×
×
W
−
p
+1
4
,
−
p
−
1
4
³
1
2
γ
2
0
´
+
1
2
sin
θ
п
sin
θ
и
(
p
+ 1)(2
γ
2
0
)
1
/
4
W
−
p
+3
4
,
−
p
−
3
4
³
1
2
γ
2
0
´ ¶
;
r
п
—
эффективный размер приемной апертуры
;
2
α
п
—
плоский угол
,
характеризующий в малоугловом приближении угловое поле зрения
приемной оптической системы
(
определяемый в малоугловом прибли
-
жении как
α
п
=
a/f
0
,
где
а
—
размер чувствительной площадки при
-
емника
,
f
0
—
фокусное расстояние приемной оптической системы
);
L
и
,
L
п
—
расстояния вдоль оптических осей от источника и прием
-
ника соответственно до центра пятна подсвета и центра поля зрения
приемника на поверхности
z
= 0
;
R
d
—
расстояние
(
по оси
x
)
меж
-
ду центрами пятна подсвета и поля зрения приемника на поверхности
z
= 0
;
σ
2
0
, γ
2
0
—
дисперсии высот и наклонов неровной поверхности
S
;
W
k,m
(
x
)
—
функция Уиттекера
.
Величины
B
п
,
E
п
,
D
п
определяются формулами
,
аналогичными
формулам
(6) (
в них индекс
“
и
”
заменяется на индекс
“
п
”).
Величина
f
(
R
d
)
—
сложная функция от параметров источника
,
приемника
,
схемы локации
,
статистических характеристик неровно
-
стей поверхности и оптических параметров среды
.
При облучении
поверхности в надир
(
вертикально вниз
)
функция
f
(
R
d
)
имеет вид
f
(
R
d
) =
R
2
d
4(
D
и
+
E
и
+
B
2
и
) + 4(
D
п
+
E
п
+
B
2
п
)
.
16 ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. “
Приборостроение
”. 2003.
№
3
