Как видно из полученного выражения
(4),
клиновидность буферного
слоя вносит погрешность в измерения показателя преломления
,
кото
-
рую можно считать методической погрешностью градуировки
.
Для уменьшения этой погрешности следует
,
по возможности
,
ми
-
нимизировать значение угла
ϕ
.
Этот угол предлагается контролировать
путем наблюдения в клине интерференционной картины в отраженном
свете
(
луч
1–1
0
,
см
.
рис
. 4).
Оценим число полос
,
наблюдаемых при на
-
личии клиновидности между поверхностями призмы и эталона
.
Для оптической разности
∆
хода лучей при толщине
h
имеем
∆ =
mλ
= 2
hn
1
cos
θ
1
,
откуда
δ
∆ =
δmλ
= 2
δhn
1
cos
θ
1
,
где
δh
=
ϕL
.
Таким образом
,
получим допустимое число интерферен
-
ционных полос
:
δm
=
2
n
1
ϕL
cos
θ
1
λ
=
2
δn
0
L
λ
.
Размер образцов составляет
L
= 10
мм
.
Если в качестве допусти
-
мой погрешности градуировки принять значение
δn
0
= 2
·
10
−
5
,
то из
последнего выражения получим
δm
≈
0
,
7
.
Контроль угла
ϕ
с заданной
погрешностью легко обеспечивается даже при визуальном способе ре
-
гистрации
.
По шести эталонным образцам была проведена калибровка прибо
-
ра
.
Для каждого эталона проводилась серия измерений
,
по результатам
которой для каждого образца находился номер пикселя
,
определяющий
положение границы свет
–
тень
.
Результаты калибровки прибора представлены в таблице
.
Эталон
Показатель преломления
n
D
Номер пикселя
Вода
1,33300
310,5
Кристалл
LiF
1,39178
962,8
Стекло ЛК
1
1,43973
1560,0
Стекло ЛК
6
1,47118
1983,7
Стекло ЛК
7
1,48287
2149,8
Стекло К
8
1,51661
2685,9
Стекло БК
6
1,53973
3137,6
П р и м е ч а н и е
:
n
D
—
показатель преломления на спектральной
линии
D
.
32 ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. "
Приборостроение
". 2004.
№
4
