Рис. 5. Изменение фазы коэффициента отражения при различных толщинах
подложки:
d
= 0
,
01
λ
(
1
),
0
,
02
λ
(
2
),
0
,
03
λ
(
3
) и
0
,
04
λ
(
4
)
Таким образом, из приведенных зависимостей следует, что изме-
нение относительной диэлектрической проницаемости подложки на
несколько процентов в сторону увеличения или уменьшения по срав-
нению со средним значением не приводит к значительному изменению
фазовых характеристик рассматриваемой структуры.
Крутизна кривой изменения фазы и диапазон изменения зависят
от толщины подложки, ширины вибраторов и расстояния до экрана.
Влияние толщины подложки иллюстрирует рис. 5, где показано изме-
нение
ϕ
от длины вибраторов решетки с периодом
T
= 0
,
3
λ
, распо-
ложенной на подложке с разной толщиной
d
. Расстояние от верхней
границы подложки до экрана
h
= 0
,
25
λ
, ширина вибратора
a
= 0
,
01
λ
.
С увеличением толщины подложки крутизна кривых возрастает. Мак-
симальная крутизна наблюдается при
d
= 0
,
04
λ
.
Ширина проводника вибратора, как и толщина подложки, опреде-
ляет емкость щели вибратора, являющейся элементом переключателя
и, таким образом, влияющей на значение включаемой сосредоточен-
ной реактивности. Желательно выбрать ширину вибратора
a
и толщи-
ну диэлектрической подложки
d
как можно меньше, так как при этом
можно добиться минимальной емкости щели, что устранит ее шунти-
рующее влияние на емкость включаемого в зазор вибратора дискрет-
ного коммутатора. В случае использования оптоэлектронного ключа,
изменяя ширину зазора при минимальных
a
и
d
, можно добиться боль-
шего диапазона изменения сосредоточенной реактивности.
Увеличение ширины вибраторов приводит к уменьшению крутиз-
ны и диапазона изменения фазовых кривых
ϕ
. На рис. 6 приведены
зависимости фазы коэффициента отражения от длины вибратора при
различной ширине. Для исследования использовалась модель с пери-
одом
T
= 0
,
5
λ
, толщина кремниевой (
ε
= 11
,
9
) подложки
d
= 0
,
01
λ
,
расстояние до экрана
h
= 0
,
25
λ
.
ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2013. № 3 103
