Диагностика сбоев в электронной аппаратуре

Рассмотрены новые методы активной диагностики при обнаружении и регистрации сбоев в аппаратуре - вычислительной технике, датчиках, исполнительных механизмах, оптико-электронных комплексах. Предложена совокупность информативных признаков для обнаружения и регистрации источников сбоев: соединителей, контактирующих узлов БИС и СБИС, контактных проводников печатных плат (включая многослойные), интерфейсных шин, не-экранированных одно- и многожильных проводов, шин заземления и электропитания, клемных колодок, мест паек. Приведены результаты исследования сбоев на физических моделях элементной базы аппаратуры, в том числе с учетом электромагнитной совместимости.