|

Усиление слабых сигналов в сканирующей зондовой микроскопии

Авторы: Гуркин Н.В., Шахнов В.А. Опубликовано: 15.03.2014
Опубликовано в выпуске: #2(71)/2008  
DOI:

 
Раздел: Радиоэлектроника  
Ключевые слова:

При разработке туннельных и атомно-силовых зондовых микроскопов возникает необходимость усиления сверхмалых токов, лежащих в пикоамперном диапазоне. Предложена схема трансимпе-дансного усилителя с отрицательным дифференциальным сопротивлением, исследованы режимы его функционирования.