Исследование частотной зависимости коэффициентов отражения высокотемпературных диэлектриков
Авторы: Протасов Ю.Ю., Щепанюк Т.С. | Опубликовано: 06.05.2014 |
Опубликовано в выпуске: #3(52)/2003 | |
DOI: | |
Раздел: Оптика | |
Ключевые слова: |
Представлены результаты экспериментального исследования в вакуумных условиях температурной зависимости коэффициентов отражения R(λл,T) высокотемпературных диэлектриков (Аl2О3, BNC, SiO2) в широкой области спектра на стандартных лазерных частотах (λл = 0,241; 0,4416; 0,6328; 0,693; 1,06; 10,6 мкм) и спектрально усредненных групповых коэффициентов отражения (R(Δλ)) в диапазоне спектра вакуумного ультрафиолета (hν ~ 10...70 эВ) в допороговой (до начала поверхностного испарения) плотности мощности зондирующего излучения.