Рис
. 1.
Температурная зависимость коэффициентов отражения
R
(
λ
л
, T
)
туго
-
плавких диэлектриков на стандартных лазерных частотах ИК
-
зондирующего
излучения
:
Al
2
O
3
(
1
—
λ
л
= 10
,
6
мкм
,
2
—
λ
л
= 1
,
06
мкм
); SiO
2
(
3
—
λ
л
≈
10
,
6
мкм
,
4
—
λ
л
≈
1
,
06
мкм
); BNC (
5
—
λ
л
≈
10
,
6
мкм
,
6
—
λ
л
≈
1
,
06
мкм
)
hν
5
∼
24
,
6
. . .
65
эВ
,
обусловленных возможностями селекции по спек
-
тру указанных ионизационных камер
.
Ионизационная камера напол
-
нялась спектрально чистыми аргоном
,
ксеноном
,
неоном и гелием
,
что позволило выделить достаточно узкие
,
частично перекрывающи
-
еся спектральные интервалы
hν
2
−
hν
5
,
перекрывающие область
hν
∼
∼
12
. . .
70
эВ
.
Эти интервалы в длинноволновой области ограничены
пороговой частотой ионизации соответствующего газа
-
наполнителя
,
а
в коротковолновой
—
спадом сечения фотоионизации
.
Для регистра
-
ции отраженного излучения в области
hν
1
∼
9
,
24
. . .
11
,
2
эВ закрытая
камера заполнялась окисью азота
.
В этом случае УФ
-
граница реги
-
стрируемого спектрального интервала определяется коэффициентом
пропускания материала окна камеры и потенциалом ионизации газа
.
Методическая и инструментальная погрешность данной серии экс
-
периментов для диапазона спектра
hν
1
∼
9
,
24
. . .
11
,
2
эВ составляет
35
±
5
%,
а в ВУФ
-
области для диапазона энергий кванта
hν >
11
,
2
эВ
составляет
55
±
10
%.
Тестовое исследование показывает
,
что зависи
-
мость
R
(
λ
л
, T
)
для алюминиевых мишеней в фиксированных частот
-
ных интервалах ИК и УФ диапазонов спектра
(
λ
л
≈
10
,
6
. . .
0
,
241
мкм
)
коррелирует с изменением коэффициентов
R
(
λ
л
, T
)
,
описываемым те
-
орией Друде для чистых металлов
[12].
На рис
. 1
приведены некоторые результаты экспериментального
определения температурной зависимости коэффициентов отражения
R
(
λ
л
, T, I
0
)
на фиксированных лазерных частотах для ряда тугоплав
-
ких диэлектриков в условиях низкой спектральной плотности мощно
-
ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. “
Приборостроение
”. 2003.
№
3 121
